Shin D.H.; Kim Y.Y.; Ren J.; Weatherwax A.L.; Pearlman R.B.; Kim C.; Glover K.B.; Muenk S.B.

Birchenall-Roberts M.C.; Yoo Y.D.; Bertolette III D.C.; Lee K.-H.; Turley J.M.; Bang O.-S.; Ruscetti F.W.; Kim S.-J.

Kobayashi H.; Yoo T.M.; Drumm D.; Kim M.-K.; Sun B.-F.; Le N.; Webber K.O.; Pastan I.; Waldmann T.A.; Paik C.H., et al.

Geum D.; Sun W.; Paik S.K.; Lee C.C.; Kim K.

Sun W.; Choe Y.S.; Lee Y.J.; Kim K.

Lipton S.A.; Kim W.-K.; Choi Y.-B.; Kumar S.; D'Emilia D.M.; Rayudu P.V.; Arnelle D.R.; Stamler J.S.

Kim C.-H.; Bae Y.-K.; Yamanaka Y.; Yamashita S.; Shimizu T.; Fujii R.; Park H.-C.; Yeo S.-Y.; Huh T.-L.; Hibi M., et al.

Song Y.S.; Kee S.H.; Kim J.W.; Park N.H.; Kang S.B.; Chang W.H.; Lee H.P.

Guan Y.; Chang M.; Cho W.; Zhang Y.; Redha R.; Davis L.; Chang S.; Dubois R.N.; Hao C.-M.; Breyer M.

In K.H.; Asano K.; Beier D.; Grobholz J.; Finn P.W.; Silverman E.K.; Silverman E.S.; Collins T.; Fischer A.R.; Keith T.P., et al.